Testmetode for ytelse av PTFE-materiale

Ta 6 stykker wafer laget av PTFE-harpiks i det rene rommet og test rensligheten under overføring av 20W-40W lysrør. Avstanden mellom prøven og lampen er omtrent 10 cm; den relative tettheten og den termiske ustabilitetsindeksen blir testet ved å dyppe metoden. Romtemperaturen holdes på 23 + 2 ℃, massen av den runde spennen i luften veies, og den runde spennen settes i den faste braketten som inneholder 23 + 2 ℃ vann, registrer kvaliteten på prøven i vann; Juster wafer-tilstanden ved 23 + 2 ℃, og kutt den standard dumbbell-formede prøven med en stansekniv, med et tykkelsesavvik på ikke mer enn +0,1 mm, deretter utføres strekkprøven av en testmaskin.